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儀器輕巧方便，易于攜帶，主要用于量測電子材料之重要特性參數(shù)，如載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數(shù)等，薄膜或固體材料均可。半導體材料測試系統(tǒng)霍爾效應電磁鐵型JH60A

實驗室半導體測量室溫探針臺JZM-D30芯片測試 該探針臺和我司自主研發(fā)的*精度雙極性恒流電源搭配使用，可以提高磁場的*穩(wěn)*性。

氣氛型高溫探針臺實驗室半導體測量設備 提供真空抽口*1、氣體入口*1、氣體出口*1、真空釋放口*1； 匹配觀察窗，插拔樣品卡，探針卡，鱷魚夾。

JH60D永磁體霍爾效應實驗儀材料電學測量 霍爾效應測試系統(tǒng)是理解和研究半導體器件和半導體材料電學特性*的工具。